2015-12-22 13:50:29

Ø型号：电镜-JSM-6380LV（日本电子）/能谱-GENESIS 2000（美国EDAX）

Ø技术指标：分辨率：3.0nm（高真空），4.0nm（低真空）；加速电压：0.5kV~30kV；放大倍数：5~30万倍；X射线能谱能量分辨率：132eV；成分分析范围：B~U。

Ø主要功能：适用于分析观察各种材料表面形貌，断口分析，金相组织分布等；结合X射线能谱仪，可对材料成分进行定性或半定量分析，对样品进行成分面扫描、线扫描，获得元素的分布图。